Quando o ASUS Zenfone 6 foi anunciado oficialmente, um dos seus principais destaques (se não for o principal) foi a sua câmera filp, uma solução que elimina o notch ou furo na tela em um mecanismo que permitia o uso da câmera traseira como a câmera frontal para selfies.
Muitas pessoas questionaram se esse mecanismo era resistente o suficiente para sobreviver aos perfis de uso mais absurdos, apesar de toda a tecnologia que a ASUS aplicou nesse mecanismo, e alguns testes bem interessantes de produtores de conteúdo.
Logo, muitos estavam esperando pelo tradicional vídeo com o “teste de tortura” do JerryRigEverything com o ASUS Zenfone 6, para eliminar essa e outras dúvidas sobre a resistência e durabilidade do novo smartphone.
ASUS Zenfone 6 passou no teste de tortura, incluindo o seu sensor de câmera flip
Como é tradicional nesse tipo de teste, o ASUS Zenfone 6 teve a sua durabilidade testada de várias formas. O mecanismo de câmera foi empurrado com os dedos, mesmo sem o app de câmera aberto e puxou o mecanismo com os dedos. E, mesmo assim, o sistema retraiu as câmeras automaticamente.
No teste de queda, o sistema de segurança implementado pela ASUS no Zenfone 6 fez com que o módulo voltasse sozinho e rapidamente para a sua posição original tão logo detectou que o dispositivo estava caindo, funcionando como esperado.
A força do mecanismo de câmera também foi testada. Aqui, o sistema do telefone emitiu uma mensagem de verificação para obstrução do mecanismo. Algo positivo para deixar os usuários informados sobre problemas eventuais nesse mecanismo.
No final das contas, o ASUS Zenfone 6 passou no teste de resistência, funcionando sem maiores problemas depois de todas as torturas que recebeu. Isso reforça que o modelo é bem promissor e muito interessante para para quem valoriza as fotos de qualidade, especialmente no caso das selfies, já que usa um sensor de 48 MP (f/1.79) trabalhando com um segundo sensor ultrawide de 13 MP (com campo de visão de 125 graus). Esse conjunto resulta na câmera de selfies com melhor qualificação do ranking do DxOMark.